서울대 전기공학부 이병호 교수의 3차원 물체 깊이 추출 분야에서 최근 연구결과가 5월 11일자 ‘옵틱스 익스프레스 (Optics Express)’에 커버 사진으로 소개되었다. 옵틱스 익스프레스는 미국광학회 (Optical Society of America)에서 출판하는, 광학 분야에서 손꼽히는 권위를 가지는 국제저널로서 광학 분야의 중요한 광학적 응용과 연구 중 가장 새로운 이슈들을 보고하고 있다.

[이병호 서울대 교수]

이병호 교수는 위상 언랩핑 (Phase unwrapping)을 사용하지 않고 3차원 물체의 깊이를 추출하는 프로파일로메트리 방식을 제안하여 이 논문이 ‘옵틱스 익스프레스 (Optics Express)’에 5월 11일 발간호에 커버 사진으로 소개되며 출간되었다. 본 논문은 다중 위상 주파수와 4단계의 위상 이동 방식을 이용한 정현 곡선 패턴의 합성 방식을 이용하고, 그것의 기하학적 구조 분석을 통해 서로 분리되어 있는 불연속적인 3차원 물체의 깊이 추출을 가능하게 한 방법을 제안한 논문이다. 이 논문은 위상 언랩핑 방식을 사용하지 않고도 절대 좌표를 구하는 것을 처음으로 가능하게 하였으며, 이에 기반하여 제안한 방식의 깊이 추출 해상도를 시뮬레이션으로 분석, 실험 결과로 이를 검증하였다. 제안된 논문은 다중 위상 주파수와 위상 이동 방식을 이용하여 오직 36장의 실험 사진 촬영을 통해 3차원 물체의 깊이를 효과적으로 추출할 수 있음을 보여주었으며, 깊이 추출을 위해 물체의 각 부분을 식별하기 위한 실험 과정이 동영상으로 제작되어 커버사진으로 소개되었다. 이 방식은 차세대 3차원 물체의 깊이 추출 분야의 발전에 크게 기여할 것으로 예상된다.

관련 링크 :  http://www.opticsinfobase.org/oe/issue.cfm?volume=17&issue=10