▲ 서울대 전기정보공학부 권성훈 교수팀 (왼쪽부터)염희란 연구원, 이용희 연구원, 권성훈 교수

간단한 피 검사로 암을 조기에 진단할 수 있는 검증기술이 개발됐습니다.

서울대는 전기정보공학부 권성훈 교수 연구팀이 암세포 DNA 변이를 정확하게 분석할 수 있는 차세대 염기서열 분석(NGS) 오류 검증기술을 개발했다고 6일 밝혔습니다.

2000년대 중반에 개발된 NGS 검사는 유전자 가닥을 하나씩 검사하는 단일 유전자 검사와 달리 다량의 유전자를 적은 비용으로 빠르게 검사할 수 있어 임상에서 질병 진단과 처방에 자주 활용되는 검사 기법입니다.

암 조기진단을 위해서는 인체에 매우 낮은 비율로 존재하는 암세포의 DNA 변이를 분석해야 하는데, 그동안 NGS 검사는 오류율이 높아 암 조기진단을 위한 임상에 실제 적용되기 어려웠습니다.

권성훈 교수 연구팀은 NGS 분석에서 오류로 읽힌 DNA 분자들만을 레이저로 추출해 복제하고, 이를 재분석해 NGS의 분석과정에서 발생한 오류를 검증할 수 있는 기술을 개발했습니다.

연구팀은 "기존 NGS 검사에서는 0.1%의 DNA 변이까지만 확인할 수 있었지만, 이번 검증기술 개발로 0.003%의 DNA 변이까지 분석할 수 있게 됐다"고 밝혔습니다.

권 교수는 "기존보다 10배 적은 비용으로 간단한 피 검사를 통해 암 조기진단이 가능해졌다"며 "생명공학, 광학, 전자공학 등 다학제간 융합 연구로 이룬 성과"라고 설명했습니다.