• 이재상 교수 연구팀이 삼성전자 SAIT와의 공동연구를 통해 유기 발광다이오드(OLED)의 성능 저하 핵심 메커니즘을 규명했다고 밝혔다.
• 연구팀은 OLED 성능을 치명적으로 감소시키는 핵심인자, ‘계면 엑시톤-폴라론 소거(exiton polaron quenching)’ 현상의 존재 가능성을 이론적으로 제시하고 실험적으로 검증하는 데 성공했다.
• 해당 연구 결과는 10월 10일 세계적 권위의 물리학술지 ‘피지컬 리뷰 X(Physical Review X)’에 게재됐다.

보도일 : 2024. 10. 11.